產(chǎn)品型號(hào)：HCCT-40H

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2025-09-09

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

電介質(zhì)特性評(píng)估系統(tǒng)

電化學(xué)遷移評(píng)價(jià)系統(tǒng)

電化學(xué)遷移評(píng)估系統(tǒng)可以輕松有效地評(píng)估產(chǎn)品壽命和絕緣電阻，從低壓測(cè)試到高壓測(cè)試都有許多應(yīng)用。

l 評(píng)價(jià)目標(biāo)

l 印刷電路板

l 絕緣材料

l 半導(dǎo)體材料

容器泄漏測(cè)試系統(tǒng)

電容器泄漏測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。

l 評(píng)價(jià)目標(biāo)

l 電容器

Platinous J 系列恒溫試驗(yàn)箱

作為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)箱的一條線，Platinous系列除了可靠性、性能、可操作性和安全性外，還追求理想的、生態(tài)友好的環(huán)境試驗(yàn)箱的新環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)。

型號(hào)

范圍 迷你零下Compact 超低溫室

Mini Subzero 支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍（-75℃/－85℃ ) to the high-85℃）至高溫范圍（+ 100℃/+ 180℃）。該滅菌室還提供遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)和操作。

內(nèi)部容積 (L)

特征

該系統(tǒng)可用于評(píng)估特定溫度環(huán)境下電容器和各種材料的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。

☆ 最多64個(gè)通道的自動(dòng)測(cè)量

該系統(tǒng)可以測(cè)量不同溫度環(huán)境下的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。

您可以選擇8個(gè)通道的倍數(shù)，最多64個(gè)通道。

☆ 圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測(cè)量結(jié)果

收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查。

☆ 可從不同測(cè)試模式選擇

溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。

<溫度特性評(píng)估測(cè)試>

在此測(cè)試模式下，自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù)，并與溫度變化同步，最多40步。

<持續(xù)運(yùn)行測(cè)試>

該測(cè)試模式測(cè)量以下參數(shù)的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。

<頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)>

該試驗(yàn)?zāi)Ｊ皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí)，自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。測(cè)試可與溫度特性評(píng)價(jià)測(cè)試或恒定運(yùn)行測(cè)試相結(jié)合。

☆ 多種可選夾具 適用于不同的試驗(yàn)樣本（可選）

除了 SMD 組件的專用夾具外，我們還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具。

應(yīng)用程序

l 電容器

l 靜電容量 (C)

l 損失因子 (D)

l 阻抗的溫度特性 (Z)

l 頻率特征

l 電子材料

l 印刷電路板

l 通量

l 絕緣材料（樹脂、薄膜等）

l 介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）

①系統(tǒng)控制器

用于登記系統(tǒng)管理的計(jì)算機(jī)和監(jiān)視器測(cè)試條件，檢查工作 狀態(tài)，并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

②不間斷電源

系統(tǒng)控制器的備用電源。

③ RS-232C

操作員控制并監(jiān)測(cè)來自系統(tǒng)控制器的環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)。

④ 掃描裝置

該裝置測(cè)量靜電容量 (C)、損耗因子(D) 和帶有測(cè)量電纜端的標(biāo)準(zhǔn)8通道的阻抗 (Z)。

您可以將每臺(tái)器械的通道數(shù)增加到64個(gè)，增量為8個(gè)通道。

⑤ 測(cè)量電纜

由聚四氟乙烯制成的同軸電纜連接到樣品或試驗(yàn)系統(tǒng)內(nèi)部夾具。

⑥ 繼電器單元

該裝置將測(cè)量電纜連接到樣本上或測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部夾具至掃描儀裝置。繼電器單元使連接變得容易。

⑦ 樣品連接夾具（可選）

用于連接 SMD 組件或離散設(shè)備的卡扣式夾具。

⑧ LCR儀表

該儀表測(cè)量靜電容量 (C)、損耗因子 (D)、和阻抗(Z)。

⑨ 絕緣電阻測(cè)試儀（選配）

該測(cè)試人員測(cè)量絕緣電阻。您可以將每臺(tái)器械的通道數(shù)增加到64個(gè)，增量為8個(gè)通道。

⑩RS-485（可選）

從環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)選項(xiàng)菜單，RS-485可將通信選作系統(tǒng)控制器和環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)的通信協(xié)議。

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